探針有哪些類型呢？很多人都搞不清楚。今天我把常見的探針類型，都給大家列出來，你看能不能幫到你發(fā)？
半導體測試探針的主要應用領域包括芯片設計驗證、晶圓測試和半導體成品測試。它起著連接芯片/晶圓與測試設備，并進行信號傳輸?shù)暮诵淖饔茫瑢τ诎雽�體產(chǎn)品的質量控制具有重要意義。

 

1、對探針產(chǎn)品結構進行測試

 

探針一般由精密儀器鉚接預壓后形成，針頭、針尾、彈簧、外管四個基本部件。

 

由于半導體產(chǎn)品體積小，特別是芯片產(chǎn)品尺寸非常小，探針尺寸要求達到微米級。它是一種高端精密電子元器件，具有較高的制造技術含量。

 

在晶圓或芯片測試的過程中，通常會使用探針來準確連接晶圓或芯片的引腳或錫球與測試機，以便檢測產(chǎn)品的導通性、電流性、功能性和老化性等性能指標。

 

 

雖然不同用途的探針外觀各異，但其內部基本都采用精密的彈簧結構。產(chǎn)品的表面通常進行鍍金處理，以增強耐腐蝕性、電氣性能、穩(wěn)定性和耐久性。

 

探針結構設計(如針形)作為半導體試驗設備的關鍵部件、針頭材料(如鎢、鷸銅)、彈性大小等都會影響探針的穩(wěn)定性、細微性、信號傳導精度等，從而影響探針的測試精度。

 

 

2、對探針結構進行分類測試

 

就結構而言，常見的探針類型主要包括彈性探針、懸臂探針和垂直探針。

 

彈性探針

 

可彈性探針是一個由螺旋彈簧組成的探針，其兩端連接在上下柱栓上。螺旋彈簧的中間部分緊密纏繞在一起，以防止產(chǎn)生額外的電感和附件電阻。而彈簧的兩端部分則被稀疏纏繞，以降低探針對被測試物體的壓力。在檢測集成電路時，信號會從下柱栓流向上方，形成導電路徑。

 

 

懸臂式探針

 

懸臂探針為探針部提供適當?shù)目v向位移，用于通過橫向懸臂接觸待測半導體產(chǎn)品，以避免探針部對待測半導體產(chǎn)品施加過大的針壓。

 

 

垂直式探針

 

垂直探針可以對應高密度信號觸點的待測半導體產(chǎn)品的細間距排列，針尖接觸待測半導體產(chǎn)品所需的縱向位移可以通過針體本身的彈性變形來提供。

 

 

3、檢測探針材料的分類

 

根據(jù)探針材料的劃分，常見的有鎢探針、釩銅探針和鎢合金探針。

 

其中，鎢髁合金探針具有穩(wěn)定的接觸電阻，兼顧硬度和柔韌性，不易發(fā)生探針偏差。因此，鎢髁合金探針是目前性能良好的一種常見探針。

 

 

4、測試探針的工作頻率分類

 

根據(jù)探針的工作頻率，探針分為同軸探針和普通探針。

 

同軸探針用于對測試頻率比較敏感的測試環(huán)境；普通探針用于對信號衰減不敏感的測試環(huán)境。

 

01同軸探針

 

同軸探針與同軸探針相似，探針周圍有銅管保護層，銅管與探針之間填充介質材料。

 

02普通探針

 

普通探針是暴露在空氣中的合金探針，通常在普通探針周圍涂一層絕緣層，以防止走線交叉短路。

 

5、探頭在半導體產(chǎn)業(yè)鏈中的地位

 

由于半導體產(chǎn)品的生產(chǎn)過程十分復雜，任何一個環(huán)節(jié)出現(xiàn)錯誤都可能導致大量產(chǎn)品質量不合格，甚至對最終的應用產(chǎn)品的性能產(chǎn)生重大影響。因此，測試在半導體產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中具有非常重要的地位，貫穿于半導體產(chǎn)品的設計、制造、包裝和應用的整個過程中。

 

探針是半導體試驗所需的重要耗材。通過與試驗機、分揀機、探針臺配合使用，可以篩選出產(chǎn)品設計缺陷和制造缺陷，用于設計驗證、晶圓試驗和成品試驗。它在確保產(chǎn)品產(chǎn)量、控制成本、指導芯片設計和工藝改進方面發(fā)揮著重要作用。

 

 

6、探針對半導體封裝檢測環(huán)節(jié)的影響

 

探針是半導體產(chǎn)品試驗中應用的重要設備。其質量對半導體產(chǎn)品的試驗效果、生產(chǎn)效率和生產(chǎn)成本控制都有重要影響。探針產(chǎn)品的質量主要體現(xiàn)在測試頻寬、產(chǎn)品尺寸、加工精度、負載電流、耐久性等方面。

以上，這里有沒有你想找的探針？有沒有你不太了解的探針？