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測試探針太重要了！現(xiàn)在探針的用途也越來越廣，特別是高科技企業(yè)產(chǎn)品的生產(chǎn)都離不開測試探針，沒有測試探針高科技產(chǎn)品無法確保品質(zhì)。那么探針該如何選擇呢？下面摘抄同行友商儒眾智能的一篇文章部分內(nèi)容，供大家閱讀，相信大家看后會更好地選擇自己需要什么樣的探針產(chǎn)品了。
半導體測試探針主要應(yīng)用于半導體的芯片設(shè)計驗證、晶圓測試、成品測試環(huán)節(jié)，是連通芯片/晶圓與測試設(shè)備進行信號傳輸?shù)暮诵牧悴考瑢Π雽w產(chǎn)品的質(zhì)量控制起著重要的作用。 
1、測試探針產(chǎn)品結(jié)
探針一般由針頭、針尾、彈簧、外管四個基本部件經(jīng)精密儀器鉚壓預壓之后形成。
由于半導體產(chǎn)品的體積較小，尤其是芯片產(chǎn)品的尺寸非常細微，探針的尺寸要求達到微米級別，是一種高端精密電子元器件，其制造技術(shù)含量高。
在晶圓或芯片測試時，探針一般用于晶圓/芯片引腳或錫球與測試機之間的精密連接，實現(xiàn)信號傳輸以檢測產(chǎn)品的導通、電流、功能和老化情況等性能指標。
不同用途的探針外觀有所不同，但探針內(nèi)部基本上都有精密的彈簧結(jié)構(gòu)，產(chǎn)品表面一般鍍金，具有很強的防腐蝕性、電氣性能、穩(wěn)定性和耐久性。
作為半導體測試設(shè)備中的關(guān)鍵部件，探針的結(jié)構(gòu)設(shè)計（如針頭形狀）、針頭材質(zhì)（如鎢、鈸銅）、彈力大小等均對探針的穩(wěn)定性、細微化、信號傳導精確度等有影響，進而影響探針的測試精度。
2、測試探針結(jié)構(gòu)分類
從結(jié)構(gòu)來看，常見的探針類型主要包括彈性探針、懸臂式探針和垂直式探針。
彈性探針
彈性探針由螺旋彈簧兩端套接在上下柱栓上，螺旋彈簧中間部分緊密纏繞（防止高頻信號產(chǎn)生附加電感和附件電阻），兩端部分稀疏纏繞（可形變減少彈簧剛度對測試件的壓強），檢測集成電路時，信號從下柱栓向上形成導電路徑。
示意圖如下：圖1基本型彈性探針，圖2具有輔助彈簧的彈性探針，圖3具有雙彈簧的彈性探針，圖4 單一彈簧彈性探針。
懸臂式探針
懸臂式探針為借由橫向懸臂提供探針針部在接觸待測半導體產(chǎn)品時適當?shù)目v向位移，以避免探針針部施加于待測半導體產(chǎn)品的針壓過大。
示意圖如下：圖5基本型懸臂探針，圖6高密度懸臂探針，圖7片狀懸臂探針，圖8防干擾懸臂探針。
垂直式探針
垂直式探針可對應(yīng)高密度信號接點的待測半導體產(chǎn)品的細間距排列，并借由針體本身的彈性變形提供針尖在接觸待測半導體產(chǎn)品所需的縱向位移。
示意圖如下：圖9基本型垂直探針，圖10抗形變垂直探針，圖11自校正垂直探針。
3、測試探針材料分類
按照探針材料劃分，常見的有鎢探針、鈸銅探針及鎢錸合金探針。
其中，鎢錸合金探針接觸電阻較穩(wěn)定，同時兼顧硬度和柔韌性，不容易出現(xiàn)探針偏斜，因此鎢錸合金探針是現(xiàn)階段通用的性能良好的探針。
4、測試探針工作頻率分類
按照探針工作頻率來劃分，探針分為同軸探針和普通探針。
其中，同軸探針用于對測試頻率較為敏感的測試環(huán)境；普通探針用于對信號衰減不敏感的測試環(huán)境。
01同軸探針
同軸探針類似同軸線，探針外圍包含一個銅管的保護層，銅管同探針之間填充介質(zhì)材料。
02普通探針
普通探針為裸露在空氣中的合金探針，為了防止走線交叉短路，通常在普通探針外圍涂一層絕緣層。
5、探針在半導體產(chǎn)業(yè)鏈中的地位
由于半導體產(chǎn)品的生產(chǎn)工藝十分繁雜，任何工序的差錯都可能導致出現(xiàn)大量產(chǎn)品質(zhì)量不合格，并對終端應(yīng)用產(chǎn)品的性能造成重大影響，因此測試對于半導體產(chǎn)品的生產(chǎn)而言至關(guān)重要，貫穿半導體產(chǎn)品設(shè)計、制造、封裝及應(yīng)用的全過程。
探針是半導體測試中所需的重要耗材，通過與測試機、分選機、探針臺配合使用，用于設(shè)計驗證、晶圓測試、成品測試環(huán)節(jié)，篩選出產(chǎn)品設(shè)計缺陷和制造缺陷，在確保產(chǎn)品良率、控制成本、指導芯片設(shè)計和工藝改進等方面具有重要作用。
6、探針對半導體封測環(huán)節(jié)的影響
探針是應(yīng)用在半導體產(chǎn)品測試環(huán)節(jié)中的重要器件，其品質(zhì)的優(yōu)劣對半導體產(chǎn)品的測試效果、生產(chǎn)效率以及生產(chǎn)成本控制都有著重要的影響。
探針產(chǎn)品的品質(zhì)主要體現(xiàn)在測試頻寬、產(chǎn)品尺寸、加工精度、可負載電流、耐久度等方面。
作為集成電路測試器中的關(guān)鍵部件，一套測試治具需要用到幾十、幾百甚至于上千根測試探針，因此儒眾智能從探針的結(jié)構(gòu)設(shè)計、材料組成、生產(chǎn)制造等方面都投入大量研究。
以上是摘自友商儒眾智能的《細讀探針分類，才能選擇更適合自己的探針類型！》部分內(nèi)容。感謝儒眾智能！
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